三星与KAIST合作，有望突破Micro-LED显示效率问题

近日，一些消息透露，KAIST（韩国科学技术院）的研究人员发现了一种可以修改Micro-LED外延结构的新方法。

目前制造高效Micro-LED屏幕所面临的一大问题是效率下降，这是蚀刻工艺在像素侧产生缺陷所导致的。像素和显示分辨率之间存在反比关系，像素越小，显示分辨率则越高。像素侧壁率劣化会导致画面暗淡、画质低下等问题，这些问题阻碍了高密度Micro-LED面板的制造。

KAIST的研究人员发现，修改外延结构可以抑制效率下降过程，此外，与传统Micro-LED结构相比，它能够将显示器产生的热量减少40%。

三星未来技术开发中心在本次研究中提供了相关支持，未来，不排除该技术会被三星用于生产Micro-LED面板，从而提升它在近眼可穿戴设备显示领域的技术实力。

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来源：RS.news